知用Cybertek光隔离探头OP6035A升级后性能得到大幅提升

知用Cybertek光隔离探头OP6035A升级后性能得到大幅提升

引言：随着碳化硅(SiC)和氮化镓(GaN)器件不断的应用，新的测试挑战也不断出现，传统硅(Si)的测试方法已经不能满足测试要求，而光隔离探头就是最佳的选择。

上期探头之家评测过知用Cybertek的光隔离探头OP6035A，点击链接可以查看原始数据报告：

http://www.probemart.com/portal/test/show.html?id=42 

升级前，从实验室实测数据来看表现并不太理想，整体平均误差约为3.901%。经过厂家性能升级后，测试数据精度提升了一个等级，整体平均误差约为0.5%。具体测试数据可以点击链接查看：

http://www.probemart.com/portal/test/show.html?id=51 

另外，升级前后的底噪我们也进行了比对，升级后底噪也降低了约一半。具体波形如下图所示：

升级前底噪波形：（实测Crosstalk波形，红色为知用光隔离，黄色为麦科信光隔离）

图1：升级前测试Crosstalk底噪波形

图2：升级前测试Crosstalk底噪波形细节放大

升级后底噪波形：（实测Crosstalk波形，橙色为知用光隔离，红色为麦科信光隔离）

图3：升级后测试Crosstalk底噪波形

图4：升级后测试Crosstalk底噪波形细节放大

总结：从测试试验数据上看，升级后的知用光隔离探头，整体性能确实提高了一个等级，不管是在底噪的控制和精度的把控上都是非常棒的。

最后，在当今日益复杂的国际竞争环境中，探头之家希望越来越多的国货之光，助力中国“质”造，能给我国的科技发展带来更多的可能性！