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KEYSIGHT是德科技光隔离探头PS0004A 高频350M高压2500V 双脉冲动态测试电压测量 KEYSIGHT是德科技光隔离探头PS0004A 高频350M高压2500V 双脉冲动态测试电压测量 品牌：KEYSIGHT 美国 产地：美国 光学隔离差分探针通过电隔离电压探头，可以将待测器件（DUT）与示波器和接地地面隔离开来，从而进行更安全、更准确的测量。这类探头的共模抑制比（CMRR）非常高，这对于在浮置节点存在较大共模电压的情况 画册 说明书 详情
IWATSU日本岩崎ON PROBE SS-350探头动态导通电阻(Rds ON电压)测试解决方案 IWATSU日本岩崎ON PROBE SS-350探头动态导通电阻(Rds ON电压)测试解决方案 品牌：IWATSU 日本岩崎 产地：日本 电流崩塌仍然是许多工程师对 GaN 功率晶体管的最大担忧之一，由于测试仪器的限制，其评估非常具有挑战性。IWATSU SS-350探头非常方便可靠地测量宽禁带器件的动态导通压降(或称动态Rds on) 画册 说明书 详情
PMK 高频高阻无源分压BNC探头PKT系列500MHz高带宽400V / 1650V 峰值电压 10:1, 100:1 BNC PMK 高频高阻无源分压BNC探头PKT系列500MHz高带宽400V / 1650V 峰值电压 10:1, 100:1 BNC 品牌：PMK 德国 产地：德国 PKT电缆分配器的典型应用是在振动设备（如机器和发动机）上的安装，连接方式为BNC到BNC。系统带宽可高达500MHz，典型上升时间为700ps。PKT电缆分配器具有高频可调性。标准制造的使用温度范围 画册 说明书 详情
日本JC功率器件测试座GD18-TO263-7-K-109 半导体SiC/GaN MOSFET测试安装夹具动态/静态参数精确评估适用于TO-263-7封装 日本JC功率器件测试座GD18-TO263-7-K-109 半导体SiC/GaN MOSFET测试安装夹具动态/静态参数精确评估适用于TO-263-7封装 品牌：JC日本 产地：日本 表面贴装功率器件测试插座:SiC/GaN 时代的高低温、高可靠，高电压，大电流，低电感。我们提供与引起行业关注的新型表面贴装封装兼容的各种测试插座，例如 TOLL、QDPAK、R2PAK 和HU3PA 画册 说明书 详情
适配TOLL型GaN氨化镓器件测试座半导体SiC/GaN MOSFET测试安装夹具动态/静态参数精确评估 JC日本GD17-TOLL-K-FL 适配TOLL型GaN氨化镓器件测试座半导体SiC/GaN MOSFET测试安装夹具动态/静态参数精确评估 JC日本GD17-TOLL-K-FL 品牌：JC日本 产地：日本 表面贴装功率器件测试插座:SiC/GaN 时代的高低温、高可靠，高电压，大电流，低电感。我们提供与引起行业关注的新型表面贴装封装兼容的各种测试插座，例如 TOLL、QDPAK、R2PAK 和HU3PA 画册 说明书 详情
日本JC功率器件测试座GD18-TO263-K-109 半导体SiC/GaN MOSFET测试安装夹具动态/静态参数精确评估适用于TO-263-3和D2PAK封装 日本JC功率器件测试座GD18-TO263-K-109 半导体SiC/GaN MOSFET测试安装夹具动态/静态参数精确评估适用于TO-263-3和D2PAK封装 品牌：JC日本 产地：日本 表面贴装功率器件测试插座:SiC/GaN 时代的高低温、高可靠，高电压，大电流，低电感。我们提供与引起行业关注的新型表面贴装封装兼容的各种测试插座，例如 TOLL、QDPAK、R2PAK 和HU3PA 画册 说明书 详情
日本JC功率器件测试座T3P-L214-ST-BK 半导体SiC/GaN MOSFET测试安装夹具动态/静态参数精确评估适用于TO-247-3和TO-220封装 日本JC功率器件测试座T3P-L214-ST-BK 半导体SiC/GaN MOSFET测试安装夹具动态/静态参数精确评估适用于TO-247-3和TO-220封装 品牌：JC日本 产地：日本 兼容TO-247等封装，支持高电流、高耐压环境。使用PEEK材料的类型具有低排气规格，此外还具有高压耐受性。提供带法兰和无法兰两种类型，无法兰类型适用于狭小空间的安装。 画册 说明书 详情
日本JC功率器件测试座T3P-L214-ST-HT 半导体SiC/GaN MOSFET测试安装夹具动态/静态参数精确评估适用于TO-247-3和TO-220封装（耐高温） 日本JC功率器件测试座T3P-L214-ST-HT 半导体SiC/GaN MOSFET测试安装夹具动态/静态参数精确评估适用于TO-247-3和TO-220封装（耐高温） 品牌：JC日本 产地：日本 兼容TO-247等封装，支持高电流、高耐压、高温环境。使用PEEK材料的类型具有低排气规格，此外还具有高温和高压耐受性。提供带法兰和无法兰两种类型，无法兰类型适用于狭小空间的安装。 画册 说明书 详情
日本JC功率器件测试座T4P-L214-ST-HT 半导体SiC/GaN MOSFET测试安装夹具动态/静态参数精确评估适用于TO-247-4封装（耐高温） 日本JC功率器件测试座T4P-L214-ST-HT 半导体SiC/GaN MOSFET测试安装夹具动态/静态参数精确评估适用于TO-247-4封装（耐高温） 品牌：JC日本 产地：日本 兼容TO-247等封装，支持高电流、高耐压、高温环境。使用PEEK材料的类型具有低排气规格，此外还具有高温和高压耐受性。提供带法兰和无法兰两种类型，无法兰类型适用于狭小空间的安装。 画册 说明书 详情
日本JC功率器件测试座T4P-L214-ST-BK 半导体SiC/GaN MOSFET测试安装夹具动态/静态参数精确评估适用于TO-247-4封装 日本JC功率器件测试座T4P-L214-ST-BK 半导体SiC/GaN MOSFET测试安装夹具动态/静态参数精确评估适用于TO-247-4封装 品牌：JC日本 产地：日本 兼容TO-247等封装，支持高电流、高耐压环境。使用PEEK材料的类型具有低排气规格，此外还具有高温和高压耐受性。提供带法兰和无法兰两种类型，无法兰类型适用于狭小空间的安装。 画册 说明书 详情
日本JC功率器件测试座T3P-L214-ST-BK-SN常规款半导体SiC/GaN MOSFET测试安装夹具动态/静态参数精确评估适用于TO-247-3和TO-220封装 日本JC功率器件测试座T3P-L214-ST-BK-SN常规款半导体SiC/GaN MOSFET测试安装夹具动态/静态参数精确评估适用于TO-247-3和TO-220封装 品牌：JC日本 产地：日本 兼容TO-247等封装，支持高电流、高耐压环境。使用PEEK材料的类型具有低排气规格，此外还具有高温和高压耐受性。提供带法兰和无法兰两种类型，无法兰类型适用于狭小空间的安装。 画册 说明书 详情
日本JC功率器件测试座T4P-L214-ST-HT-P 半导体SiC/GaN MOSFET测试安装夹具动态/静态参数精确评估适用于TO-247-4封装（耐高温） 日本JC功率器件测试座T4P-L214-ST-HT-P 半导体SiC/GaN MOSFET测试安装夹具动态/静态参数精确评估适用于TO-247-4封装（耐高温） 品牌：JC日本 产地：日本 兼容TO-247等封装，支持高电流、高耐压和高温环境。使用PEEK材料的类型具有低排气规格，此外还具有高温和高压耐受性。提供带法兰和无法兰两种类型，无法兰类型适用于狭小空间的安装。 画册 说明书 详情

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