Danisense 磁通门 Flux-Gate高精度电流传感器技术原理介绍

Danisense专有的磁通门是一种闭环补偿技术，具有固定的激励频率和二次谐波零磁通检测。初级电流产生的环形线圈中的磁场被积分器产生的补偿次级电流抵消。磁通门检测环形线圈中从直流到小于 100 Hz 的亚 ppm 级磁场，并告诉积分器对其进行补偿。在较高频率下，反馈绕组以ppm级检测环形线圈中的磁场，并再次告诉积分器对其进行补偿。

T&M SSDN,SDN, 1M, A 型无感同轴分流器CVR shunt

国产Micsig光隔离探头---应用于第三代半导体SiC与GaN 测试的突破性新产品 MOIP1000P,MOIP500P,MOIP200P

第三代半导体碳化硅（SiC）、氮化镓（GaN）具有耐压高、导通电阻低、寄生参数小等优异特性，应用于开关电源领域时，具有损耗小、工作频率高、可靠性高等优点，可以大大提升开关电源的效率、功率密度和可靠性等。光隔离探头产品可以非常良好的还原VGS 驱动电平波形。

光隔离探头原理与应用 Optical-fiber Isolated Probe 宽禁带器件Vgs 测量

光隔离探头，英文名Optical-fiber Isolated Probe，是示波器的一种测量探头。光隔离探头主要应用于新能源及功率半导体领域，例如逆变器、开关电源、电机驱动、 IGBT半 /全桥电路、第三代半导体氮化镓（ GaN）及碳化硅（ SiC）器件及所组成的电路测试，也可用于高压浮地测试场合，实现电气安全隔离。

IWATSU 发布解决功率器件导通损耗CONDUCTION LOSS 信号校准器IE-1360 Deskew Calibrator

开关器件动态测量对相位的精度非常敏感，偏移校正十分重要，因为对于开关损耗测量，SIC器件等晶体管Ton打开和Toff 相之间纳秒的差异有可能造成功率和能量损耗测量出现大的误差。自动偏移校正程序使用推荐的 IWATSU IE-1360 Deskew Calibrator偏移校正装置，可消除不同探头的传播时延差异， 极大提高功率器件开关损耗测量精度。

PCIM ASIA 2023年 - IWATSU 针对SiC 器件动态参数测量推出 DS-8000-SWA Power device Dynamic Parameter Analyzer

2023年PCIM Asia 上海国际电力元件、可再生能源管理展览会将于 8 月 29至 31 日在上海新国际博览中心隆重举行。本届展会将汇聚超过 180 家参展企业，集中展示在电力电子技术方面的最新技术与产品，日本IWATSU 岩通计测在展会现场展示了其最新发布的先进技术产品 DS-8000-SWA 动态参数分析系统及高性能测试光隔离电压探头，高频罗氏探头组。

美国 CIC 公司超高电压-特高压差分探头10KV-20KV-30KV

IWATSU与PEM 高频罗氏电流探头（线圈）选型参考

高精度直流，交流，高频脉冲电流分流器选型说明

一种脉冲大电流的测量手段—Rogowski罗柯夫斯基线圈

由于电流表内阻很小，在测量电路电流时候，电流表是允许直接串联在电路中间，也就是说电流表是不会影响到电路中的电流。