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日本JC功率器件测试座GD18-TO263-K-109 半导体SiC/GaN MOSFET测试安装夹具动态/静态参数精确评估适用于TO-263-3和D2PAK封装 日本JC功率器件测试座GD18-TO263-K-109 半导体SiC/GaN MOSFET测试安装夹具动态/静态参数精确评估适用于TO-263-3和D2PAK封装 品牌：JC日本 产地：日本 表面贴装功率器件测试插座:SiC/GaN 时代的高低温、高可靠，高电压，大电流，低电感。我们提供与引起行业关注的新型表面贴装封装兼容的各种测试插座，例如 TOLL、QDPAK、R2PAK 和HU3PA 画册 说明书 详情
日本JC功率器件测试座T3P-L214-ST-BK 半导体SiC/GaN MOSFET测试安装夹具动态/静态参数精确评估适用于TO-247-3和TO-220封装 日本JC功率器件测试座T3P-L214-ST-BK 半导体SiC/GaN MOSFET测试安装夹具动态/静态参数精确评估适用于TO-247-3和TO-220封装 品牌：JC日本 产地：日本 兼容TO-247等封装，支持高电流、高耐压环境。使用PEEK材料的类型具有低排气规格，此外还具有高压耐受性。提供带法兰和无法兰两种类型，无法兰类型适用于狭小空间的安装。 画册 说明书 详情
日本JC功率器件测试座T3P-L214-ST-HT 半导体SiC/GaN MOSFET测试安装夹具动态/静态参数精确评估适用于TO-247-3和TO-220封装（耐高温） 日本JC功率器件测试座T3P-L214-ST-HT 半导体SiC/GaN MOSFET测试安装夹具动态/静态参数精确评估适用于TO-247-3和TO-220封装（耐高温） 品牌：JC日本 产地：日本 兼容TO-247等封装，支持高电流、高耐压、高温环境。使用PEEK材料的类型具有低排气规格，此外还具有高温和高压耐受性。提供带法兰和无法兰两种类型，无法兰类型适用于狭小空间的安装。 画册 说明书 详情
日本JC功率器件测试座T4P-L214-ST-HT 半导体SiC/GaN MOSFET测试安装夹具动态/静态参数精确评估适用于TO-247-4封装（耐高温） 日本JC功率器件测试座T4P-L214-ST-HT 半导体SiC/GaN MOSFET测试安装夹具动态/静态参数精确评估适用于TO-247-4封装（耐高温） 品牌：JC日本 产地：日本 兼容TO-247等封装，支持高电流、高耐压、高温环境。使用PEEK材料的类型具有低排气规格，此外还具有高温和高压耐受性。提供带法兰和无法兰两种类型，无法兰类型适用于狭小空间的安装。 画册 说明书 详情
日本JC功率器件测试座T4P-L214-ST-BK 半导体SiC/GaN MOSFET测试安装夹具动态/静态参数精确评估适用于TO-247-4封装 日本JC功率器件测试座T4P-L214-ST-BK 半导体SiC/GaN MOSFET测试安装夹具动态/静态参数精确评估适用于TO-247-4封装 品牌：JC日本 产地：日本 兼容TO-247等封装，支持高电流、高耐压环境。使用PEEK材料的类型具有低排气规格，此外还具有高温和高压耐受性。提供带法兰和无法兰两种类型，无法兰类型适用于狭小空间的安装。 画册 说明书 详情
日本JC功率器件测试座T3P-L214-ST-BK-SN常规款半导体SiC/GaN MOSFET测试安装夹具动态/静态参数精确评估适用于TO-247-3和TO-220封装 日本JC功率器件测试座T3P-L214-ST-BK-SN常规款半导体SiC/GaN MOSFET测试安装夹具动态/静态参数精确评估适用于TO-247-3和TO-220封装 品牌：JC日本 产地：日本 兼容TO-247等封装，支持高电流、高耐压环境。使用PEEK材料的类型具有低排气规格，此外还具有高温和高压耐受性。提供带法兰和无法兰两种类型，无法兰类型适用于狭小空间的安装。 画册 说明书 详情
日本JC功率器件测试座T4P-L214-ST-HT-P 半导体SiC/GaN MOSFET测试安装夹具动态/静态参数精确评估适用于TO-247-4封装（耐高温） 日本JC功率器件测试座T4P-L214-ST-HT-P 半导体SiC/GaN MOSFET测试安装夹具动态/静态参数精确评估适用于TO-247-4封装（耐高温） 品牌：JC日本 产地：日本 兼容TO-247等封装，支持高电流、高耐压和高温环境。使用PEEK材料的类型具有低排气规格，此外还具有高温和高压耐受性。提供带法兰和无法兰两种类型，无法兰类型适用于狭小空间的安装。 画册 说明书 详情
日本JC功率器件测试座T3P-L214-ST-BK-P 半导体SiC/GaN MOSFET测试安装夹具动态/静态参数精确评估适用于TO-247-3和TO-220封装 日本JC功率器件测试座T3P-L214-ST-BK-P 半导体SiC/GaN MOSFET测试安装夹具动态/静态参数精确评估适用于TO-247-3和TO-220封装 品牌：JC日本 产地：日本 兼容TO-247等封装，支持高电流、高耐压环境。使用PEEK材料的类型具有低排气规格，此外还具有高温和高压耐受性。提供带法兰和无法兰两种类型，无法兰类型适用于狭小空间的安装。 画册 说明书 详情
日本JC功率器件测试座T4P-L214-ST-BK-P 半导体SiC/GaN MOSFET测试安装夹具动态/静态参数精确评估适用于TO-247-4封装 日本JC功率器件测试座T4P-L214-ST-BK-P 半导体SiC/GaN MOSFET测试安装夹具动态/静态参数精确评估适用于TO-247-4封装 品牌：JC日本 产地：日本 兼容TO-247等封装，支持高电流、高耐压环境。使用PEEK材料的类型具有低排气规格，此外还具有高温和高压耐受性。提供带法兰和无法兰两种类型，无法兰类型适用于狭小空间的安装。 画册 说明书 详情
日本JC功率器件测试座T3P-L214-ST-HT-P 半导体SiC/GaN MOSFET测试安装夹具动态/静态参数精确评估适用于TO-247-3和TO-220封装（耐高温） 日本JC功率器件测试座T3P-L214-ST-HT-P 半导体SiC/GaN MOSFET测试安装夹具动态/静态参数精确评估适用于TO-247-3和TO-220封装（耐高温） 品牌：JC日本 产地：日本 兼容TO-247等封装，支持高电流、高耐压和高温环境。使用PEEK材料的类型具有低排气规格，此外还具有高温和高压耐受性。提供带法兰和无法兰两种类型，无法兰类型适用于狭小空间的安装。 画册 说明书 详情
PMK高压差分探头适配器连接器4mm to Testpoint-Adapter适用BUMBLEBEE和HORNET系列 PMK高压差分探头适配器连接器4mm to Testpoint-Adapter适用BUMBLEBEE和HORNET系列 品牌：PMK 德国 产地：德国 画册 说明书 详情
PMK PHV665-L/200高频200M高压2800Vrms/6KVpk 示波器无源电压探头（200:1) PMK PHV665-L/200高频200M高压2800Vrms/6KVpk 示波器无源电压探头（200:1) 品牌：PMK 德国 产地：德国 PHV665-L-RO，变比200:1；带宽200MHz，线5m；电压：2800Vrsm，4000VAC+DCpk，6000Vpk（Pluse)；输入阻抗电容：50MΩ/7.5pF 画册 说明书 详情

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