IWATSU&湖南大学 SiC/GaN动态参数测量新技术交流会

IWATSU&湖南大学 SiC/GaN动态参数测量新技术交流会

会议主题:SiC/GaN 动态参数测量新技术交流会

会议亮点:全球首款光隔离电流与电压测量方案测量误差形成的原因分析

会议时间:2024年9月2日14:00-17:00

会议地址:湖南大学集贤宾馆岳麓厅

邀请会议人员 :湖南大学电气与信息工程学院、湖南大学机械与运载工程学院

演讲者简介:

長浜 童Nagahama Ryu

岩崎通信機株式会社T&M カンパニ- T&M 推進部 经理

岐阜大学电气、电子与信息工程系兼职讲师

*日本 JEMA 协会 JHILL/JSTC 属 JCSS 校准服务研究组委员

*日本 JEMIMA/JEMA IEC/SC22 变速驱动系统效率委员会委员

开学第一天，39度的高温天气， 湖大电气，机电学院的老师，博士们莅临会场交流。

本次交流会由来自日本的IWATSU技术部专家分享了最前沿的功率电子测试技术和SiC/GaN 器件测试的最新技术

如：全球首发的光隔离电流探头和器件开启时测开关间的动态导通电压的NO探头等。

现场还展示了IWATSU顶尖的仪器设备如：测软磁性材料的B-H分析仪SY-8218

测半导体静态测试的CS曲线图示仪

以及力高捷创仪器特色定制的双脉冲动态测试系统成套方案操作演示等分享交流。