日本JC功率器件测试座GD18-TO263-K-109 半导体SiC/GaN MOSFET测试安装夹具 动态/静态参数精确评估 适用于TO-263-3和D2PAK封装

使用我们 JCx 系列的高可靠性测试插座和专用夹具，可以在测量过程中最大可能的释放 SiC/GaNMOSFET 的全部性能潜力，

夹具采用与日本 ]℃ 株式会社合作的专用连接器和器件固定材料，适合于常温与高低温条件下稳定评估各种 DIP 与 SMD 

封装的器件静态参数;使用低电感测试座用于动态参数评估可能获得极佳的稳定数据。

JCx 准确评估 TO-3P 和 TO-247 封装功率器件的性能对于开发和制造至关重要。我们的测试插座提供创新技术和高可靠性，

可最大限度地提高采用 SiC(碳化硅)和 GaN(氮化镓)等下一代半导体材料构建的 MOSFET 的性能。

我们的插座专为 半导体静态参数、动态开关参数参数 ，以及器件 HTRB 可靠性测试而设计，

即使在恶劣条件下也能保持稳定的电气和机械完整性。

高速开关信号-低 Ls 和开尔文精密测量评估我们的测试插座旨在充分提取设备的高速开关性能并实现精确评估。

我们的插座采用标准开尔文连接可将电流测量路径与电压传感路径隔离开来。这消除了接线和接触电阻对压降的影响，

确保了高精度的测量。

表面贴装功率器件测试插座:SiC/GaN 时代的高低温、高可靠，高电压，大电流，低电感。

我们提供与引起行业关注的新型表面贴装封装兼容的各种测试插座，例如 TOLL、ODPAK、R2PAK 和HU3PAK。

直插贴装 DIP 功率器件测试插座

通孔安装功率器件测试插座:兼容 TO-247-4L、TO-3P 等我们提供与 TO-247-4L 和 TO-3P 等通孔安装封装兼容的

高性能测试插座的全面阵容。我们的插座采用开尔文连接，能够准确评估 TO-247-4L等封装中 MOSFET 芯片的高速开关性能。

此外，我们还提供能够处理最大 DC 50A 电流的高性能设计的产品。