T&M SSDN,SDN, 1M, A 型无感同轴分流器CVR shunt

国产Micsig光隔离探头---应用于第三代半导体SiC与GaN 测试的突破性新产品 MOIP1000P,MOIP500P,MOIP200P

第三代半导体碳化硅（SiC）、氮化镓（GaN）具有耐压高、导通电阻低、寄生参数小等优异特性，应用于开关电源领域时，具有损耗小、工作频率高、可靠性高等优点，可以大大提升开关电源的效率、功率密度和可靠性等。光隔离探头产品可以非常良好的还原VGS 驱动电平波形。

IWATSU 发布解决功率器件导通损耗CONDUCTION LOSS 信号校准器IE-1360 Deskew Calibrator

开关器件动态测量对相位的精度非常敏感，偏移校正十分重要，因为对于开关损耗测量，SIC器件等晶体管Ton打开和Toff 相之间纳秒的差异有可能造成功率和能量损耗测量出现大的误差。自动偏移校正程序使用推荐的 IWATSU IE-1360 Deskew Calibrator偏移校正装置，可消除不同探头的传播时延差异， 极大提高功率器件开关损耗测量精度。

PCIM ASIA 2023年 - IWATSU 针对SiC 器件动态参数测量推出 DS-8000-SWA Power device Dynamic Parameter Analyzer

2023年PCIM Asia 上海国际电力元件、可再生能源管理展览会将于 8 月 29至 31 日在上海新国际博览中心隆重举行。本届展会将汇聚超过 180 家参展企业，集中展示在电力电子技术方面的最新技术与产品，日本IWATSU 岩通计测在展会现场展示了其最新发布的先进技术产品 DS-8000-SWA 动态参数分析系统及高性能测试光隔离电压探头，高频罗氏探头组。

美国 CIC 公司超高电压-特高压差分探头10KV-20KV-30KV

IWATSU与PEM 高频罗氏电流探头（线圈）选型参考

高精度直流，交流，高频脉冲电流分流器选型说明

一种脉冲大电流的测量手段—Rogowski罗柯夫斯基线圈

由于电流表内阻很小，在测量电路电流时候，电流表是允许直接串联在电路中间，也就是说电流表是不会影响到电路中的电流。

IWATSU 发布新一代高频交直流电流探头SS-520,530,540,550,560,570

什么是罗氏线圈Rogowski Coil? 高di/dt的电流测量