罗氏线圈与同轴分流器优劣势对比
双脉冲动态测试中电流探头应该选择同轴分流器还是罗氏线圈，并没有一个完美的标准答案，根据自己的测试考虑更侧重哪个指标，或者测试环境安装条件等因素。两者同时使用并无干绕，还可以互相佐证
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罗氏线圈电流探头的低频特性及下降特性
罗氏线圈电流探头从原理上来看，是无法进行直流测试的。所以具有在低频下检测灵敏度下降的特性。通常来说，将检测灵敏度降到-3dB的时候设定为低频截断频率。受此低频特性的影响，在测试包含有低频成分的信号时，实际电流与罗氏探头所测得的结果会有一定的差异，在使用时务必注意。各机型的低频截断频率及下降特性的指标与低频截断频率相关联的另一个低频特性的指标是《下降特性（Droopping）》。这里所指的下降特性是指对步进式脉冲波测试时的特性，基本指标值如下表.1所示。
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SiC双脉冲测试最佳选择之光隔离探头典型应用
众所周知，双脉冲测试是目前了解SiC动态参数特性的最佳手段。而光隔离探头又是测量VGS的最佳选择。特别是在测量上管VGS时，挑战最大。 现阶段SiC MOSFET器件的Vgs(th)大部分在2-3V内，加上其开关速度快、工作电压高，其误导通的风险往往比Si MOSFET和IGBT更高，需要引起足够的重视。
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SiC 及IGBT 动态斩波双脉冲测试实验及其注意事项
解IGBT各项参数，如Eon, Eoff, Tdon, Tdoff, Tr, Tf，芯片开关特性等，此项测试的意义是验证datasheet中各项参数值以及对不同模块的性能评估。
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