VAMTEK【JECTRONIC子品牌】致力于为用户提供用于SiC/GaN MOSFET的高可靠性测试插座和

适配Keysight, Iwatsu 品牌半导体参数测试系统的专用测试夹具,专业工装,专业线材。

使用我们JCx系列的高可靠性测试插座和专用夹具，可以在测量过程中最大可能的释放 SiC/GaN MOSFET 的全部性能潜力，

夹具采用与日本JC株式会社合作的专用连接器和器件固定材料，适合于常温与高低温条件下稳定评估各种DIP与SMD 封装

的器件静态参数；使用低电感测试座用于动态参数评估可能获得极佳的稳定数据。

JCx准确评估 TO-3P 和 TO-247 封装功率器件的性能对于开发和制造至关重要。我们的测试插座提供创新技术和高可靠性，

可最大限度地提高采用 SiC（碳化硅）和 GaN（氮化镓）等下一代半导体材料构建的 MOSFET 的性能。

我们的CX系列插座专为 半导体静态参数、动态开关参数参数 ，以及器件 HTRB 可靠性测试而设计，即使在恶劣条件下

也能保持稳定的电气和机械完整性。

高速开关信号-低Ls和开尔文精密测量评估

我们的测试插座旨在充分提取设备的高速开关性能并实现精确评估。我们的插座采用标准开尔文连接，可将电流测量路径

与电压传感路径隔离开来。这消除了接线和接触电阻对压降的影响，确保了高精度的测量。

直插贴装DIP功率器件测试插座

通孔安装功率器件测试插座：兼容 TO-247-4L、TO-3P 等

我们提供与 TO-247-4L 和 TO-3P 等通孔安装封装兼容的高性能测试插座的全面阵容。

我们的插座采用开尔文连接，能够准确评估 TO-247-4L 等封装中 MOSFET 芯片的高速开关性能。

此外，我们还提供能够处理最大 DC 50A 电流的高性能TO型特种高低温测试座产品线。

另外，针对新型宽禁带器件Ls的表面贴装功率器件，我们可以提供丰富型号测试插座，满足SiC/GaN时代的高低温、

高可靠，高电压，大电流，低电感要求。

我们提供与引起行业关注的新型表面贴装封装兼容的各种测试插座，例如TOLL、 QDPAK、R2PAK 和 HU3PAK 等，

我们将持续更新研发新型器件的适配装置以适应客户的新型产品 。